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Advantest Q8384 光譜分析儀
Advantest Q8384 光譜分析儀可以測量和評估超高速光DWDM傳輸系統和光學元件在高波長分辨率和精度高。新的gao端光學頻譜分析儀采用新的四通單色器系統，提供高波長分辨率和寬廣的動態范圍。
嚴格的的波長測量要求在DWDM光通信光源。Q8384光學頻譜分析儀評估這些規范，
增強的分辨率帶寬，波長精度。最好在世界Q8384達到10點的波長分辨率，在1550nm波段的波長準確度達到20點。
如此高的性能使得它可以為Q8384測量激光二極管的振蕩波長特性的準確。
DWDM光通信系統中也包含波長分割復用的
信道間隔為盡可能接近的時間間隔為50千兆赫（0.4納米）。
在這樣的環境中具有優異的動態范圍的光學頻譜分析儀是必需的分開的光信號，并測量光放大器的噪聲系數（NF）。
0.1 nm時為50分貝至60分貝0.2納米寬的動態范圍，因此，充分滿足這些要求。
配備了自動光放大器NF測量和算術設施，允許用戶在一個簡單的方式進行測量。
任選具有一個內置的參照波長的光源和一個EE-LED（邊緣發射LED）。
如果Q8384與參考光源，儀器校準保證提供20日下午在1550nm波段的波長精度。使用的EE-LED的寬帶光源，使用戶能夠方便地測量和評價其傳輸和窄帶光學濾波器的損耗特性。通過就業新開發的單色器系統，實現了波長分辨率帶寬作為highas晚上10點。這使得它可以測量和評價其邊帶的光信號的強度調制以10 Gbps，與常規的頻譜分析儀以前不可能的任務。
可以測量的精度為±20時的波長在1530至1570nm的C波段的波長范圍內，并在±40點范圍內的L波段為一千五百七到1610 nm的范圍內后，與內置的校準校準光源（選件25）。使得按鈕的噪聲系數測量精度高，可以通過性能增強的動態范圍，偏振相關性，電平精度，線性度，波長分辨率設置精度等，并應用曲線擬合等功能。可以準確地確定DWDM信號的時間間隔為50GHz（0.4納米）或更窄的復ASE水平，它不僅提供能夠執行精確的噪聲系數測量，而且還能夠顯示多個測量結果的清單在同一時間。可以顯示最大為256個峰值波長的WDM信號的功率電平。它可以顯示從ITU-T的信道間隔，或從一個參考信號，以及在絕對值偏差的波長和功率電平。可以具有不同的設置條件在兩個窗口中顯示兩個組測量數據。這些窗口可擦寫的使用交替掃描功能。通過此功能，用戶可以進行詳細的特定波長帶中的信號的測量，同時監測在整個波長區域的WDM系統。支持遠距離傳輸回路測試，使用一個外部同步掃描功能。它可以測量非常微弱的信號，令人滿意的，因為它具有高靈敏度的約-65 dBm。此外，脈沖掃描功能，使得它可以測量所測得的光的峰值。即使脈沖光可以測量不缺少任何部分。支持級聯顯示多達32個跡線，它允許同時顯示多通道的移動設備的特性，如從AWG的。允許DWDM系統監控。這是可能的連續監測，峰值波長，每個通道的電平，信噪比波動是否是在其各自的公差。另外，也可以同時顯示當前值相對于初始值，第一通道的值，參考值，以及顯示的絕對值。可以同時顯示的波形的最大值，最小值，電流值，每次測量的重復掃描。波動范圍的顯示，使用戶可以一看就知道對溫度和極化變化的器件特性的變化。Q8384可以將數據存儲在文本和位圖格式，內置標準的軟盤驅動器。
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